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Detalhes dos produtos

Created with Pixso. Para casa Created with Pixso. produtos Created with Pixso.
Medida da unidade da fonte
Created with Pixso. Semicondutores Unidade de medição da fonte 100V 1A 10A Pulso fonte medidor Unidade P200

Semicondutores Unidade de medição da fonte 100V 1A 10A Pulso fonte medidor Unidade P200

Nome da marca: PRECISE INSTRUMENT
Número do modelo: P200
MOQ: 1 Unidade
Tempo de entrega: 2- 8 semanas
Condições de pagamento: T/T
Informações pormenorizadas
Lugar de origem:
porcelana
Intervalos V:
300mV-100V
Classe I:
Modo de pulso: 10nA10A Modo CC: 10nA1A
Limites de potência:
Modo CC: máximo 30 W /Modo Pulso: máximo 300 W
Largura de pulso mínima:
200 μs
Taxa de amostragem:
100,000 S/S
Detalhes da embalagem:
Cartão.
Habilidade da fonte:
500 SET/MONTH
Destacar:

Unidade de medição da fonte de semicondutores

,

Unidade de medição da fonte de 100 V

,

Unidade P200 do medidor de fonte de pulso

Descrição do produto

Semicondutores Unidade de medição da fonte 100V 1A 10A Pulso fonte medidor Unidade P200

O P200 Benchtop Pulse Source Meter é um instrumento de teste de alto desempenho projetado para integrar medição de precisão, saída de ampla faixa dinâmica e operação digital intuitiva com toque.Com uma tela sensível ao toque de 5 polegadas com simplicidade semelhante ao smartphone, o P200 fornece até 100V de saída e 10A de corrente pulsada, apoiando a operação de quatro quadrantes.serve como uma ferramenta versátil para caracterizar semicondutores, nanomateriais, electrónica orgânica, electrónica impressa e outros componentes de pequena escala e de baixa potência.


Características do produto

Precisão e fiabilidade:A tecnologia de medição avançada garante a precisão das correntes pulsadas de 1pA a 10A, garantindo dados confiáveis para aplicações críticas.

Interface fácil de usar:A interface gráfica simplificada com uma tela sensível ao toque de 5 polegadas simplifica configurações complexas, mesmo para usuários novatos.

Largo intervalo de ensaio:Abrange correntes pulsadas de corrente contínua 1pA1A e 10A, tensão 0100V, sensores de suporte, módulos de potência e dispositivos de baixa potência.

Saída de pulso estável:Atinge uma largura de pulso mínima de 200 μs com controlo preciso, ideal para testes de semicondutores de alta velocidade.

Modos de funcionamento flexíveis:A fonte/abaixamento bidirecional de corrente (modos fonte/abaixamento) simula cenários do mundo real, incluindo testes de recuperação de energia.

Análise avançada:As varreduras lineares, logarítmicas e personalizadas otimizam a caracterização IV para materiais ou dispositivos com comportamentos não lineares.

Gestão eficiente dos dados:O armazenamento USB e a geração de relatórios com um clique simplificam a análise e o compartilhamento de dados.

Integração perfeita:As interfaces RS-232, GPIB e LAN permitem a integração do sistema ATE e o controle remoto.


Parâmetros do produto

Posições

Parâmetros

Intervalos V

300 mV-100 V

Classe I

Modo de pulso: 10nA10A Modo CC: 10nA1A

Limites de potência

Modo CC: máximo 30 W /Modo Pulso: máximo 300 W

Largura mínima do pulso

200 μs

Taxa de amostragem

100,000 S/s

Precisão

± 0,1%

Triggering: polaridade configurável do gatilho de entrada/saída

Polaridade do gatilho de entrada/saída

Exibição

Ecrã sensível ao toque de 5 polegadas

Interfaces

RS-232, GPIB, LAN

Armazenamento

Suporte USB

Fornecimento de energia

100 ̊240 V AC, 50/60 Hz


Aplicações

Indústria de semicondutores:Teste de fugas invertidas nos diodos, características de comutação dos MOSFET e desempenho a altas temperaturas dos dispositivos SiC para P&D e controlo de qualidade.

Energia e Display Tech:Medir o brilho do LED/AMOLED, a cromaticidade e a eficiência energética.

Validação do sensor:Assegurar a linearidade dos sensores de pressão, a sensibilidade dos sensores de temperatura e a fiabilidade da IoT e da automação industrial.

Ciência dos materiais:Caracterização da tinta eletrônica para telas flexíveis, condutividade de grafeno/nanofilamentos e semicondutores orgânicos para eletrônicos de próxima geração.



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Semicondutores Unidade de medição da fonte 100V 1A 10A Pulso fonte medidor Unidade P200

Nome da marca: PRECISE INSTRUMENT
Número do modelo: P200
MOQ: 1 Unidade
Detalhes da embalagem: Cartão.
Condições de pagamento: T/T
Informações pormenorizadas
Lugar de origem:
porcelana
Marca:
PRECISE INSTRUMENT
Número do modelo:
P200
Intervalos V:
300mV-100V
Classe I:
Modo de pulso: 10nA10A Modo CC: 10nA1A
Limites de potência:
Modo CC: máximo 30 W /Modo Pulso: máximo 300 W
Largura de pulso mínima:
200 μs
Taxa de amostragem:
100,000 S/S
Quantidade de ordem mínima:
1 Unidade
Detalhes da embalagem:
Cartão.
Tempo de entrega:
2- 8 semanas
Termos de pagamento:
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Habilidade da fonte:
500 SET/MONTH
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,

Unidade de medição da fonte de 100 V

,

Unidade P200 do medidor de fonte de pulso

Descrição do produto

Semicondutores Unidade de medição da fonte 100V 1A 10A Pulso fonte medidor Unidade P200

O P200 Benchtop Pulse Source Meter é um instrumento de teste de alto desempenho projetado para integrar medição de precisão, saída de ampla faixa dinâmica e operação digital intuitiva com toque.Com uma tela sensível ao toque de 5 polegadas com simplicidade semelhante ao smartphone, o P200 fornece até 100V de saída e 10A de corrente pulsada, apoiando a operação de quatro quadrantes.serve como uma ferramenta versátil para caracterizar semicondutores, nanomateriais, electrónica orgânica, electrónica impressa e outros componentes de pequena escala e de baixa potência.


Características do produto

Precisão e fiabilidade:A tecnologia de medição avançada garante a precisão das correntes pulsadas de 1pA a 10A, garantindo dados confiáveis para aplicações críticas.

Interface fácil de usar:A interface gráfica simplificada com uma tela sensível ao toque de 5 polegadas simplifica configurações complexas, mesmo para usuários novatos.

Largo intervalo de ensaio:Abrange correntes pulsadas de corrente contínua 1pA1A e 10A, tensão 0100V, sensores de suporte, módulos de potência e dispositivos de baixa potência.

Saída de pulso estável:Atinge uma largura de pulso mínima de 200 μs com controlo preciso, ideal para testes de semicondutores de alta velocidade.

Modos de funcionamento flexíveis:A fonte/abaixamento bidirecional de corrente (modos fonte/abaixamento) simula cenários do mundo real, incluindo testes de recuperação de energia.

Análise avançada:As varreduras lineares, logarítmicas e personalizadas otimizam a caracterização IV para materiais ou dispositivos com comportamentos não lineares.

Gestão eficiente dos dados:O armazenamento USB e a geração de relatórios com um clique simplificam a análise e o compartilhamento de dados.

Integração perfeita:As interfaces RS-232, GPIB e LAN permitem a integração do sistema ATE e o controle remoto.


Parâmetros do produto

Posições

Parâmetros

Intervalos V

300 mV-100 V

Classe I

Modo de pulso: 10nA10A Modo CC: 10nA1A

Limites de potência

Modo CC: máximo 30 W /Modo Pulso: máximo 300 W

Largura mínima do pulso

200 μs

Taxa de amostragem

100,000 S/s

Precisão

± 0,1%

Triggering: polaridade configurável do gatilho de entrada/saída

Polaridade do gatilho de entrada/saída

Exibição

Ecrã sensível ao toque de 5 polegadas

Interfaces

RS-232, GPIB, LAN

Armazenamento

Suporte USB

Fornecimento de energia

100 ̊240 V AC, 50/60 Hz


Aplicações

Indústria de semicondutores:Teste de fugas invertidas nos diodos, características de comutação dos MOSFET e desempenho a altas temperaturas dos dispositivos SiC para P&D e controlo de qualidade.

Energia e Display Tech:Medir o brilho do LED/AMOLED, a cromaticidade e a eficiência energética.

Validação do sensor:Assegurar a linearidade dos sensores de pressão, a sensibilidade dos sensores de temperatura e a fiabilidade da IoT e da automação industrial.

Ciência dos materiais:Caracterização da tinta eletrônica para telas flexíveis, condutividade de grafeno/nanofilamentos e semicondutores orgânicos para eletrônicos de próxima geração.