100V 1A PXI Unidade de medição de fonte Subcartão de canal único DC SMU Unidade CS200

O CS200 é uma subcarta modular de alta precisão, de um único canal, com unidade de medição de fonte digital (SMU) projetada para sistemas host modulares de várias ranhuras.Esta subcartão integra a fonte de tensão/corrente, funções voltímetro/ameter e capacidades de carga electrónica num único módulo.permite a medição e a obtenção simultâneas de corrente/voltagem, tornando-o ideal para tarefas de caracterização elétrica complexas, como análise paramétrica de semicondutores e validação de dispositivos de potência.

Características do produto

▪Precisão:00,1% de precisão de fonte/medida com resolução de 51⁄2-números.

▪Intervalos:Voltagem 300 mV100 V, corrente 100 nA1 A, potência máxima 30 W.

▪Modos de funcionamento:Operação de quatro quadrantes para abastecimento e carga electrónica.

▪Escalabilidade:Compatível com os hospedeiros Pusces 1003CS (3-slot) e 1010CS (10-slot).

▪Controle multicanal:O barramento de gatilho permite a varredura sincronizada ou operação independente entre os subcartes.

▪Modos de varredura:Análise de curvas IV lineares, exponenciais e personalizadas para caracterização complexa.

▪Interfaces:RS-232, GPIB e Ethernet para integração perfeita em sistemas de teste automatizados.

Parâmetros do produto

Aplicações

▪Ensaios de dispositivos semicondutores:IV Caracterização e análise paramétrica de dispositivos discretos (diodos, BJTs, MOSFETs, dispositivos SiC).

▪Avaliação dos sensores, incluindo a medição da resistividade e a análise do efeito Hall.Materiais e energia avançados▪Tecnologias:Caracterização das propriedades elétricas dos nanomateriais (grafeno, nanofios) e dos materiais orgânicos (tinta electrónica). Avaliação da eficiência e avaliação do envelhecimento das células solares, dos LED e dos AMOLED.

▪Aplicações industriais e de investigação:Sistemas de ensaio paralelo multicanal para ensaios do ciclo da bateria e validação da eficiência do conversor CC-CC.Soluções de ensaio de alta densidade (por exemplo,A utilização de um sistema de testes de nível de wafer (wafer-level testing) através de colaboração de várias subcartas para melhorar o rendimento.