Canal de vídeo da China Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Contacte-nos
Para casa Vídeos Lista de reprodução Página Web

Cartão de aquisição de dados A400 com resolução ADC de 16 bits e taxa de amostragem de 1 MS/s

Cartão de aquisição de dados
February 26, 2025
Keyword: Cartão de aquisição de dados
Contacte-nos
Etiquetas:
#cartão de aquisição de dados de alta velocidade #Cartão Daq de alta velocidade #pxi SMU
Video Description:
Discover the A400 Data Acquisition Card, featuring 16-bit ADC resolution and a 1MS/s sampling rate. With 4 channels per card and up to 40 channels per host, it offers excellent galvanic isolation, overvoltage protection, and high-precision signal acquisition for complex electrical environments.
Vídeos relacionados
1200V/100A Analisador de Parâmetros de Semicondutores SPA6100 00:36

1200V/100A Analisador de Parâmetros de Semicondutores SPA6100
Sistemas de ensaio de semicondutores
February 25, 2025
Sistema de ensaio de sensores de corrente de 1000A CTMS 00:24

Sistema de ensaio de sensores de corrente de 1000A CTMS
Sistemas de ensaio de semicondutores
February 25, 2025
S300 Unidade de medição da fonte de corrente contínua 300V/1A para ensaio das características elétricas 00:24

S300 Unidade de medição da fonte de corrente contínua 300V/1A para ensaio das características elétricas
Medida da unidade da fonte
February 24, 2025
Fonte de alimentação de alta tensão de 1200V/100mA para ensaio de tensão de ruptura IGBT 00:24

Fonte de alimentação de alta tensão de 1200V/100mA para ensaio de tensão de ruptura IGBT
Fonte de alimentação de alta tensão
February 24, 2025
1000A/18V Fornecimento de energia por pulso de alta corrente HCPL100 para ensaio HEMT SiC/IGBT/GaN 00:24

1000A/18V Fornecimento de energia por pulso de alta corrente HCPL100 para ensaio HEMT SiC/IGBT/GaN
Medida da unidade da fonte
February 24, 2025
10kV/6000A Analisador de dispositivo de potência Sistema de teste estático PMST para MOSFET BJT semicondutores IGBT e SiC GaN 00:30

10kV/6000A Analisador de dispositivo de potência Sistema de teste estático PMST para MOSFET BJT semicondutores IGBT e SiC GaN
Sistemas de ensaio de semicondutores
February 25, 2025
Medidor de fonte de canal duplo de 30 V/30 A DP100B com medição de tensão/corrente e funcionamento em quatro quadrantes 00:24

Medidor de fonte de canal duplo de 30 V/30 A DP100B com medição de tensão/corrente e funcionamento em quatro quadrantes
Medidor de fonte de canal duplo
February 24, 2025
Medidor de Fonte de Pulso de 100 V/1A/10A P200 para Caracterização de Semicondutores 00:24

Medidor de Fonte de Pulso de 100 V/1A/10A P200 para Caracterização de Semicondutores
Medida da unidade da fonte
February 24, 2025
Instrumento PRECISO. Fonte de Exploração Consistência interna e externa 01:24

Instrumento PRECISO. Fonte de Exploração Consistência interna e externa
Outros vídeos
February 16, 2025
10V/500mA Quatro canais Subcartão de fonte DC Unidade de medição CS401 00:26

10V/500mA Quatro canais Subcartão de fonte DC Unidade de medição CS401
Equipamento de ensaio multicanal
February 24, 2025