10V 500mA PXI Unidade de medição de fonte Subcartão Pulso PXI SMU Unidade CBI401

O subcartão modular CBI401 é um componente central das Unidades de Medição de Fonte (SMU) digitais de precisão da série CS, projetadas para caracterização elétrica multicanal de potência média a baixa.Com uma arquitetura comum de quatro canais de cartão único, cada canal funciona de forma independente ou sincronizada, ideal para testes paralelos de alta densidade.Ele aproveita uma largura de banda de plano de fundo de 3Gbps e um bus de gatilho de 16 canais para permitir a coordenação multi-dispositivo de alta velocidadeOtimizado para testes em lotes de baixa ruído e alta estabilidade, ele fornece até 500mA de corrente, 10V de tensão e 5W de potência por canal, atendendo às necessidades de teste de precisão em semicondutores, sensores,e dispositivos de microalimentação.

Características do produto

▪Projeto multicanal de alta densidade:Integra 4 canais independentes por subcartão para testes de dispositivos paralelos.

▪ Operação sincronizada:A sincronização gerada por hardware entre os canais garante a precisão de tempo de nível μs.

▪ Precisão e baixo ruído:00,1% de precisão de fonte/medição com resolução de 51⁄2-números; medição de corrente até 5μA, faixa de tensão 10mV ∼ 10V.

▪ Operação Quadrante:Simula o comportamento da fonte de alimentação ou da carga electrónica em modos de abastecimento/afundamento.

▪ Flexibilidade de modo duplo:Suporta protocolos de teste pulsados e de CC para caracterização dinâmica.

▪ Arquitetura escalável:Integração perfeita com os hosts da série CS para expansão do sistema até 40 canais.

Parâmetros do produto

Aplicações

▪ Ensaio das características dos dispositivos semicondutores discretos, incluindo resistores, diodos, diodos emissores de luz, diodos Zener, diodos PIN, transistores BJT, MOSFETs, SIC, GaN e outros dispositivos;

▪ Ensaios de energia e eficiência, incluindo LED/AMOLED, células solares, conversores CC-DC, etc.;

▪ Ensaio das características dos sensores, incluindo a resistividade, o efeito Hall, etc.;

▪ Teste das características dos materiais orgânicos, incluindo tinta electrónica, tecnologia electrónica impressa, etc.;

▪ Teste das características dos nanomateriais, incluindo o grafeno, os nanofios, etc.