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Detalhes dos produtos

Created with Pixso. Para casa Created with Pixso. produtos Created with Pixso.
Sistemas de ensaio de semicondutores
Created with Pixso. Sistema de ensaio C-V para dispositivos semicondutores de 10 Hz-1 MHz

Sistema de ensaio C-V para dispositivos semicondutores de 10 Hz-1 MHz

Nome da marca: PRECISE INSTRUMENT
MOQ: 1 Unidade
Tempo de entrega: 2- 8 semanas
Condições de pagamento: T/T
Informações pormenorizadas
Lugar de origem:
porcelana
Frequência dos ensaios:
10 Hz-1 MHz
Precisão:
±0,01%
Intervalo de ensaio de capacidade:
0.01pF ¥ 9.9999F
Detalhes da embalagem:
Cartão.
Habilidade da fonte:
500 SET/MONTH
Destacar:

Dispositivo de alimentação de semicondutores de 1 MHz

,

Dispositivo de alimentação de semicondutores de 10 Hz

,

Sistema de Caracterização de Semicondutores C-V

Descrição do produto

Sistema de ensaio C-V para dispositivos semicondutores de 10 Hz-1 MHz

A medição de capacitância-voltagem (C-V) é amplamente utilizada para caracterizar parâmetros de semicondutores, particularmente em capacitores MOS (MOS CAPs) e estruturas MOSFET.A capacitância de uma estrutura de metal-óxido-semicondutor (MOS) é uma função da tensão aplicadaA curva que representa a variação da capacitância com a tensão é chamada de curva C-V (ou características C-V).

·Espessura da camada de óxido (dox)

·Concentração de dopagem no substrato (Nn)

·Densidade de carga móvel no óxido (Q1)

·Densidade fixa de carga de óxido (Qfc).

 

Características do produto

Ampla faixa de frequências: 10 Hz1 MHz com pontos de frequência ajustáveis continuamente.

Alta precisão e ampla gama dinâmica: 0 V ∼ 3500 V com uma precisão de 0,1%.

Teste de CV integrado: o software de teste de CV automatizado integrado suporta múltiplas funções, incluindo C-V (capacitância-voltagem), C-T (capacitância-tempo) e C-F (capacitância-frequência).

IV Compatibilidade de ensaio: mede simultaneamente as características de avaria e o comportamento da corrente de fuga.

Planejamento de curvas em tempo real: uma interface de software intuitiva visualiza dados de teste e curvas para monitoramento em tempo real.

Alta escalabilidade: o projeto do sistema modular permite uma configuração flexível com base nas necessidades de teste.


Parâmetros do produto

Posições

Parâmetros

Frequência dos ensaios

10 Hz-1 MHz

Precisão de saída de frequência

± 0,01%

Precisão básica

± 0,5%

Nível de sinal de ensaio AC

10mV~2Vrms (1m Vrms Resolução)

Nível do sinal de ensaio em CC

10 mV~2 V (1m Vrms Resolução)

Impedância de saída

100Ω

Intervalo de ensaio de capacidade

0.01pF ¥ 9.9999F

Intervalo de viés do VGS

0 - ± 30V ((Facultativo))

Intervalo de viés do VDS

300 V ~ 1200 V

Parâmetros de ensaio

Diodo: CJ,IR,VR

MOSFET:Ciss,Coss,Crss,Rg,IDSS,IGSS,BVDSS

IGBT:Cies,Coes,Cres,ICES,IGES,VBRCES

Interface

RS232, LAN

Protocolo de programação

SCPI, Laboratório.

 

Aplicações

Nanomateriais: Resistividade, Mobilidade do Portador, Concentração do Portador, Voltagem de Hall

Materiais flexíveis:Teste de tração/torção/dobragem, tempo de tensão (V-t), tempo de corrente (I-t), tempo de resistência (R-t), resistência, sensibilidade, capacidade de junção.

Dispositivos discretos:BVDSS,IGSS,IDSS,Vgs ((th),Ciss/Coss/Crss (Input/Output/Reverse).

Fotodetectores: Corrente escura (ID), Capacidade de junção (Ct), Voltagem de ruptura reversa (VBR), Responsividade (R).

Células solares de perovskita:Tensão de circuito aberto (VOC), Corrente de curto circuito (ISC), Potência máxima (Pmax), Tensão de potência máxima (Vmax), Corrente de potência máxima (Imax), Fator de enchimento (FF), Eficiência (η),Resistência de série (Rs), Resistência de desvio (Rsh), Capacidade de junção.

LEDs/OLEDs/QLED: Voltagem para a frente (VF), corrente limite (Ith), tensão inversa (VR), corrente inversa (IR), capacidade de junção.



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Sistemas de ensaio de semicondutores
Created with Pixso. Sistema de ensaio C-V para dispositivos semicondutores de 10 Hz-1 MHz

Sistema de ensaio C-V para dispositivos semicondutores de 10 Hz-1 MHz

Nome da marca: PRECISE INSTRUMENT
MOQ: 1 Unidade
Detalhes da embalagem: Cartão.
Condições de pagamento: T/T
Informações pormenorizadas
Lugar de origem:
porcelana
Marca:
PRECISE INSTRUMENT
Frequência dos ensaios:
10 Hz-1 MHz
Precisão:
±0,01%
Intervalo de ensaio de capacidade:
0.01pF ¥ 9.9999F
Quantidade de ordem mínima:
1 Unidade
Detalhes da embalagem:
Cartão.
Tempo de entrega:
2- 8 semanas
Termos de pagamento:
T/T
Habilidade da fonte:
500 SET/MONTH
Destacar:

Dispositivo de alimentação de semicondutores de 1 MHz

,

Dispositivo de alimentação de semicondutores de 10 Hz

,

Sistema de Caracterização de Semicondutores C-V

Descrição do produto

Sistema de ensaio C-V para dispositivos semicondutores de 10 Hz-1 MHz

A medição de capacitância-voltagem (C-V) é amplamente utilizada para caracterizar parâmetros de semicondutores, particularmente em capacitores MOS (MOS CAPs) e estruturas MOSFET.A capacitância de uma estrutura de metal-óxido-semicondutor (MOS) é uma função da tensão aplicadaA curva que representa a variação da capacitância com a tensão é chamada de curva C-V (ou características C-V).

·Espessura da camada de óxido (dox)

·Concentração de dopagem no substrato (Nn)

·Densidade de carga móvel no óxido (Q1)

·Densidade fixa de carga de óxido (Qfc).

 

Características do produto

Ampla faixa de frequências: 10 Hz1 MHz com pontos de frequência ajustáveis continuamente.

Alta precisão e ampla gama dinâmica: 0 V ∼ 3500 V com uma precisão de 0,1%.

Teste de CV integrado: o software de teste de CV automatizado integrado suporta múltiplas funções, incluindo C-V (capacitância-voltagem), C-T (capacitância-tempo) e C-F (capacitância-frequência).

IV Compatibilidade de ensaio: mede simultaneamente as características de avaria e o comportamento da corrente de fuga.

Planejamento de curvas em tempo real: uma interface de software intuitiva visualiza dados de teste e curvas para monitoramento em tempo real.

Alta escalabilidade: o projeto do sistema modular permite uma configuração flexível com base nas necessidades de teste.


Parâmetros do produto

Posições

Parâmetros

Frequência dos ensaios

10 Hz-1 MHz

Precisão de saída de frequência

± 0,01%

Precisão básica

± 0,5%

Nível de sinal de ensaio AC

10mV~2Vrms (1m Vrms Resolução)

Nível do sinal de ensaio em CC

10 mV~2 V (1m Vrms Resolução)

Impedância de saída

100Ω

Intervalo de ensaio de capacidade

0.01pF ¥ 9.9999F

Intervalo de viés do VGS

0 - ± 30V ((Facultativo))

Intervalo de viés do VDS

300 V ~ 1200 V

Parâmetros de ensaio

Diodo: CJ,IR,VR

MOSFET:Ciss,Coss,Crss,Rg,IDSS,IGSS,BVDSS

IGBT:Cies,Coes,Cres,ICES,IGES,VBRCES

Interface

RS232, LAN

Protocolo de programação

SCPI, Laboratório.

 

Aplicações

Nanomateriais: Resistividade, Mobilidade do Portador, Concentração do Portador, Voltagem de Hall

Materiais flexíveis:Teste de tração/torção/dobragem, tempo de tensão (V-t), tempo de corrente (I-t), tempo de resistência (R-t), resistência, sensibilidade, capacidade de junção.

Dispositivos discretos:BVDSS,IGSS,IDSS,Vgs ((th),Ciss/Coss/Crss (Input/Output/Reverse).

Fotodetectores: Corrente escura (ID), Capacidade de junção (Ct), Voltagem de ruptura reversa (VBR), Responsividade (R).

Células solares de perovskita:Tensão de circuito aberto (VOC), Corrente de curto circuito (ISC), Potência máxima (Pmax), Tensão de potência máxima (Vmax), Corrente de potência máxima (Imax), Fator de enchimento (FF), Eficiência (η),Resistência de série (Rs), Resistência de desvio (Rsh), Capacidade de junção.

LEDs/OLEDs/QLED: Voltagem para a frente (VF), corrente limite (Ith), tensão inversa (VR), corrente inversa (IR), capacidade de junção.