Sistemas de ensaio de semicondutores de envelhecimento a laser LDBI Sistema de ensaio multicanal

LDBI multi-channel high-power laser aging system is specifically designed to address the issues of kilowatt-level high-power semiconductor laser chips and pump laser modules that require narrow pulse high current testing and agingA empresa desenvolveu de forma inovadora um sistema de ensaio de envelhecimento versátil, de alta potência e resfriado a água.
O produto apresenta excelentes características de corrente constante de pulso estreito de alta corrente, corrente estável e forte capacidade anti-interferência.Inclui também circuitos de protecção dupla para sobre tensão, retorno EMF e protecção contra ondas elevadas, proporcionando uma solução completa para o ensaio de envelhecimento de chips de laser semicondutores de alta potência e módulos de laser de bomba.

Características do produto

▪Uma gaveta única suporta até 16 canais, no máximo 8 gavetas: cada gaveta pode acomodar até 16 canais independentes, com uma capacidade total de até 8 gavetas.

▪Canais independentes: Todos os canais operam de forma independente, garantindo que não haja interferências entre os ensaios.

▪Medições de leitura de corrente e sincronizadas: mede automaticamente a tensão, a potência óptica e outros parâmetros simultaneamente com a leitura de corrente.

▪Filme de aquecimento e controle de temperatura: utiliza filme de aquecimento para controle de temperatura, com uma faixa de temperatura ambiente a 125 °C.

▪Fornecimento de energia resistente a sobretensões: concebido para resistir a sobretensões de energia, garantindo um funcionamento estável.

▪Dispositivo de recolha de luz refrigerado a água: equipado com refrigeração a água para gerir o calor gerado durante o funcionamento.

▪Precisão de temperatura elevada: Precisão de temperatura absoluta de ±1°C, com uniformidade de temperatura de ±2°C em diferentes DUT (Dispositivos em Teste).

▪Registro e exportação automática de dados de envelhecimento: Regista automaticamente os dados do teste de envelhecimento e suporta a exportação de dados para análise.

Parâmetros do produto

Aplicações

Ensaios de dispositivos de potência de semicondutores

▪Medir com precisão os parâmetros estáticos de dispositivos de energia, tais como MOSFET, BJT, IGBT, SiC (carbono de silício) e GaN (nitruro de gálio), incluindo tensão de ruptura, corrente de vazamento, resistência de ligação,tensão limite, capacidade de junção, etc.

▪Suporta requisitos de teste de alta tensão, alta corrente e alta precisão para semicondutores de terceira geração (por exemplo, SiC, GaN).

Investigação das propriedades elétricas dos materiais semicondutores

▪Fornece testes de parâmetros de desempenho elétrico para materiais semicondutores (por exemplo, variação de corrente, tensão, resistência), apoiando a I&D de materiais e a validação de processos.

Ensaios de componentes electrónicos de potência de veículos de nova energia

▪Concentra-se no teste de parâmetros estáticos de dispositivos IGBT e SiC de nível automotivo, atendendo às demandas de teste de alta tensão e alta corrente sob arquiteturas de 800V.Abrange aplicações essenciais como inversores principais e pilhas de carregamento.

Teste e controlo de qualidade da linha de produção de automação industrial

▪Permite testes de ponta a ponta desde laboratórios até linhas de produção em massa, incluindo testes de parâmetros estáticos automatizados para wafers, chips, dispositivos e módulos.Compatível com sistemas de produção semi-automáticos (PMST-MP) e totalmente automatizados (PMST-AP).

Instituição académica e de investigação

▪Usado para experimentos de características físicas em circuitos integrados e dispositivos de energia, cobrindo cursos como princípios de dispositivos semicondutores e eletrônica analógica.Facilitar o desenvolvimento de centros de prática de testes de chips.