Canal de vídeo da China Wuhan Precise Instrument Co., Ltd.
Bate-papo Contacte-nos
Para casa Vídeos Lista de reprodução Sobre nós Site oficial
Português
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Polish
Persian
Bengali
Thai
Vietnamese
Arabic
Hindi
Turkish
Indonesian
loading

1200V/100A Analisador de Parâmetros de Semicondutores SPA6100

Sistemas de ensaio de semicondutores
February 26, 2025
Bate-papo
Introduzindo o SPA6100 Semiconductor Parameter Analyzer, que oferece alta precisão, amplo alcance de medição, rápida flexibilidade e forte compatibilidade,de potência não superior a 50 W, mas não superior a 150 W,, capacidade-voltagem e características I-V pulsadas em condições de alta corrente/alta tensão, com faixa de tensão de 300mV a 1200V, faixa de corrente de 10nA a 100A e 0,1%;0.03% de precisão, bem-vindo a visitar o nosso site!
Sistemas de ensaio de semicondutores
Vídeos relacionados
Sistema de envelhecimento a laser de alta potência multicanal LDBI 00:34
Sistema de envelhecimento a laser de alta potência multicanal LDBI

Sistema de envelhecimento a laser de alta potência multicanal LDBI
Sistemas de ensaio de semicondutores
February 26, 2025
Sistema de ensaio de sensores de corrente de 1000A CTMS 00:24
Sistema de ensaio de sensores de corrente de 1000A CTMS

Sistema de ensaio de sensores de corrente de 1000A CTMS
Sistemas de ensaio de semicondutores
February 26, 2025
10kV/6000A Analisador de dispositivo de potência Sistema de teste estático PMST para MOSFET BJT semicondutores IGBT e SiC GaN 00:30
10kV/6000A Analisador de dispositivo de potência Sistema de teste estático PMST para MOSFET BJT semicondutores IGBT e SiC GaN

10kV/6000A Analisador de dispositivo de potência Sistema de teste estático PMST para MOSFET BJT semicondutores IGBT e SiC GaN
Sistemas de ensaio de semicondutores
February 26, 2025
Fornecimento de energia de pulso de alta corrente de 300A/30V HCPL030 para ensaio HEMT SiC/IGBT/GaN 00:24
Fornecimento de energia de pulso de alta corrente de 300A/30V HCPL030 para ensaio HEMT SiC/IGBT/GaN

Fornecimento de energia de pulso de alta corrente de 300A/30V HCPL030 para ensaio HEMT SiC/IGBT/GaN
Fornecimento de energia de alta corrente
February 25, 2025
2 MS/s Cartão de aquisição de dados multicanal A400B Board Alta velocidade 00:27
2 MS/s Cartão de aquisição de dados multicanal A400B Board Alta velocidade

2 MS/s Cartão de aquisição de dados multicanal A400B Board Alta velocidade
Medida da unidade da fonte
February 26, 2025
Instrumento PRECISO. Fonte de Exploração Consistência interna e externa 01:24
Instrumento PRECISO. Fonte de Exploração Consistência interna e externa

Instrumento PRECISO. Fonte de Exploração Consistência interna e externa
Outros vídeos
February 17, 2025
30V/1A/10A Teste de semicondutores Operação de Quatro Quadrantes Pulso de Fonte Métrico P100 00:24
30V/1A/10A Teste de semicondutores Operação de Quatro Quadrantes Pulso de Fonte Métrico P100

30V/1A/10A Teste de semicondutores Operação de Quatro Quadrantes Pulso de Fonte Métrico P100
Medida da unidade da fonte
February 24, 2025
Unidade de medição da fonte de pulso de alta corrente de 100 V/100 A HCP300 para IGBT 00:25
Unidade de medição da fonte de pulso de alta corrente de 100 V/100 A HCP300 para IGBT

Unidade de medição da fonte de pulso de alta corrente de 100 V/100 A HCP300 para IGBT
Medida da unidade da fonte
February 24, 2025
Medidor de fonte de canal duplo de 300V/30A DP300B para vários ensaios de características elétricas 00:24
Medidor de fonte de canal duplo de 300V/30A DP300B para vários ensaios de características elétricas

Medidor de fonte de canal duplo de 300V/30A DP300B para vários ensaios de características elétricas
Medidor de fonte de canal duplo
February 24, 2025
S300 Unidade de medição da fonte de corrente contínua 300V/1A para ensaio das características elétricas 00:24
S300 Unidade de medição da fonte de corrente contínua 300V/1A para ensaio das características elétricas

S300 Unidade de medição da fonte de corrente contínua 300V/1A para ensaio das características elétricas
Medida da unidade da fonte
February 24, 2025