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Medida da unidade da fonte

Impulso de ensaio de semicondutores SMU Unidade de medição da fonte P200B 100V 4A 30A

Unidade de medição da fonte de pulso de alta corrente HCP100 Max 30A 50V Unidade de medidor da fonte

300V 4A 30A Pulso SMU Unidade P300B Medição da fonte para semicondutores e materiais

Medidor de fonte de canal duplo

Unidade DP100B de medidor de fonte de canal duplo de 30V 30A com medição de tensão / corrente

100V 30A Dual Channel Source Meter DP200B Unidade de medição da fonte para teste BJT

300V 30A Unidade de medição de fontes duplas DP300B SMU para teste de características elétricas

Equipamento de ensaio multicanal

100V 1A PXI Unidade de medição de fonte Subcartão de canal único DC SMU Unidade CS200

Unidade de medição de fonte de corrente contínua de canal único PXI SMU 30V 1A Subcard CS100

1010C Unidade SMU multicanal para testes de caracterização de semicondutores e materiais

3 Slots Sub Card Plug In SMU Unidade 1003C Unidade de medição da fonte

4 canais Instrumentos nacionais SMU 10V 500mA Subcartão DC Fonte medida CS401

Fornecimento de energia de alta corrente

300A 30V Fornecimento de energia por pulso Fonte de alta corrente HCPL030 Para teste SiC IGBT GaN HEMT

1000A 18V Fonte de corrente de pulso de alta corrente HCPL100 Fornecedora de energia programável

Fonte de alimentação de alta tensão

2200V 100mA Fonte de alimentação de alta tensão E200 Fonte de alimentação de tensão constante

3500V/100mA Fonte de alimentação de alta tensão E300 Medidor de fonte de alta tensão

8000V 40mA Fonte de alimentação de alta tensão E800 Para teste SiC / IGBT / GaN HEMT

1200V 100mA Unidade de medição de fonte de energia de alta tensão para teste de tensão de ruptura IGBT

Teste da fonte de alimentação do laser

20A CW / 20A QCW Testing Laser Power Supply HCPL002 Diodo de alta potência Laser Power Supply

HCPL006 Fornecedor de energia do laser de diodo 60A CW/60A QCW Fornecedor de energia do laser de ensaio

60A CW / 600A QCW Fornecedor de energia do laser de teste HCPL060 Fornecedor de energia do laser de diodo

Cartão de aquisição de dados

2MS/S Multi Channel Pxi SMU High Speed Data Acquisition Card A400B High Speed Daq Card

1MS/S Cartão de Aquisição de Dados A400 4 canais 16 Bit ADC Resolução Daq Card

Sistemas de ensaio de semicondutores

1200V/100A Analisador de Parâmetros de Semicondutores SPA6100 Sistemas de Ensaios de Semicondutores

Sistema de ensaio C-V para dispositivos semicondutores de 10 Hz-1 MHz

Sistema de ensaio de sensores de corrente de 1000A CTMS Equipamento de ensaio de semicondutores

Sistemas de ensaio de semicondutores de envelhecimento a laser LDBI Sistema de ensaio multicanal

10kV/6000A Analisador de dispositivo de potência Teste estático PMST Para Mosfet BJT IGBT SiC GaN Semicondutor

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